JSE

Paris, France

 Journées des Spectroscopies d'Electrons

La troisième édition des Journées des Spectroscopies d'Electrons aura lieu à Paris, les 21 et 22 janvier 2020.
Organisée par la SFV-Division Spectroscopie d’Electron, soutenue par la Société Française de Physique, et en partenariat avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI).
The third edition of the French Electron Spectroscopy Workshop will be held in Paris on January 21st-22nd, 2020.
Organized by the French Vacuum Society, once again the workshop will be in close partnership whith the Condensed Matter Division of the French Physical Society and in collaboration with the Surfaces and Interfaces Workshop.

Nouveauté édition 2020 - 2 prix SFV-SFP dédiés aux jeunes chercheurs :
meilleur poster (doctorants) et meilleur oral (doctorants et post-doctorants)

Sous le parrainage de la SFV et la SFP, les Journées des Spectroscopies d’Electrons (JSE) visent à rassembler annuellement de façon dynamique, dans un format court, la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron et laboratoire…
Ces troisième Journées prévue les 21-22 janvier 2020 fait suite aux éditions qui ont rassemblé plus d’une soixante de participants à Strasbourg (2018) et Nancy (2019).
Les JSE se déroulent en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se tiendront à la suite (22-24 janvier), dans le même lieu (facilités d’inscriptions pour les deux évènements JSE et JSI).
Le programme s'articulera autour d’exposés invités, contributeurs, et posters de façon à donner un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels dans le domaine des spectroscopies électroniques. Le programme laissera une place aux temps d'échanges autour des posters et des stands exposant.
 
Un Focus Thématique le mercredi 22 au matin, sera dédié aux mesures in-situ et operando : Near-Ambient Pressure XPS, mesures sous illumination, électrochimie in-situ, dispositifs polarisés in-situ, .... donnera un panorama complet grâce à l’intervention de spécialistes du domaine.
La présence d’exposants et fournisseurs permettra d’avoir un aperçu des derniers développements instrumentaux.

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